T2K 与 NOvA 出现数据的张力

Mohammad Nizam; Suman Bharti; Suprabh Prakash; Ushak Rahaman; S. Uma Sankar

doi:10.1142/S0217732320500212

T2K 与 NOvA 出现数据的张力

高能物理 - 唯象学 2020-03-13 v2 高能物理 - 实验

作者: Mohammad Nizam , Suman Bharti , Suprabh Prakash , Ushak Rahaman , S. Uma Sankar

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摘要

长基线中微子实验 T2K 和 NOvA 已在四个通道中各获取了大量数据：(a) $\nu_\mu$ 消失，(b) $\bar\nu_\mu$ 消失，(c) $\nu_e$ 出现以及 (d) $\bar\nu_e$ 出现。T2K 的消失数据集与出现数据集之间存在轻微张力。T2K 的 $\nu_e$ 出现数据与 NOvA 的 $\nu_e / \bar\nu_e$ 出现数据之间存在更严重的张力。该张力足够显著，以至于 T2K 在 $95\%$ 置信水平排除了 NOvA 的最佳拟合点，而 NOvA 在 $90\%$ 置信水平排除了 T2K 的最佳拟合点。我们解释了这些张力产生的原因。我们还对 T2K 和 NOvA 数据做了联合拟合，并对该拟合结果进行了评论。

关键词

长基线中微子实验 T2K NOvA 中微子出现中微子消失数据张力联合拟合

引用

@article{arxiv.1811.01210,
  title  = {Tensions between the appearance data of T2K and NOvA},
  author = {Mohammad Nizam and Suman Bharti and Suprabh Prakash and Ushak Rahaman and S. Uma Sankar},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1811.01210},
  year   = {2020}
}

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T2K 与 NOvA 出现数据的张力

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