无中微子双贝塔衰变HPGe探测器信号脉冲形状分析中的系统效应
核实验
2014-11-20 v3
摘要
脉冲形状分析是下一代基于76Ge的无中微子双贝塔衰变实验中重要的本底抑制和信号识别技术。我们针对一种参数化脉冲形状分析技术，研究了其在区分多站点本底事件与单站点信号事件时的系统不确定性。我们考察了全能量伽马峰（主要为多站点）、双逃逸峰（主要为单站点）以及双贝塔衰变端点附近的康普顿连续谱（这将是大多数无中微子双贝塔衰变搜索的主要本底）中事件的系统不确定性。简而言之，我们发现脉冲形状截断存活概率的总（统计加系统）分数不确定性分别为：双逃逸事件6.6%，连续谱事件1.5%，伽马射线事件3.8%。
引用
@article{arxiv.0907.2940,
title = {Systematic Effects in Pulse Shape Analysis of HPGe Detector Signals for Neutrinoless Double-Beta Decay},
author = {Victor M Gehman and Steven R Elliott and Dongming Mei},
journal= {arXiv preprint arXiv:0907.2940},
year = {2014}
}
备注
14 pages, 6 figures