面向显示屏前屏质量检测的缺陷合成生成：综述
机器学习
2022-03-08 v1
摘要
显示屏前屏（FOS）质量检测在制造过程中显示屏的批量生产中至关重要。然而，数据的严重不平衡，尤其是缺陷样本数量有限，一直是阻碍深度学习算法成功应用的长期问题。合成缺陷数据生成有助于解决该问题。本文综述了可潜在应用于显示屏 FOS 质量检测任务的最先进合成数据生成方法与评价指标。
引用
@article{arxiv.2203.03429,
title = {Synthetic Defect Generation for Display Front-of-Screen Quality Inspection: A Survey},
author = {Shancong Mou and Meng Cao and Zhendong Hong and Ping Huang and Jiulong Shan and Jianjun Shi},
journal= {arXiv preprint arXiv:2203.03429},
year = {2022}
}