ZrSiS表面终止依赖的准粒子散射干涉与磁输运研究

狄拉克 nodal line 半金属代表了一种新的量子物质态，其中电子能带接触形成具有线性色散的闭合环。此处，我们结合密度泛函理论计算、扫描隧道显微镜（STM）与磁输运测量对ZrSiS进行了综合研究。我们的STM测量揭示了两种解理面上的菱形狄拉克体态与表面态的谱学特征，以及在S面上E~0.6eV处${\bar{\Gamma}}$点的自旋极化表面态，与我们的能带计算一致。此外，我们发现表面终止不影响来自狄拉克体态的表面谱权重，但由于表面轨道组成的变化而极大地影响了表面态。由我们的磁输运测量，主要的Shubnikov-de Haas频率被确认源于${\Gamma}$与X之间的空穴型准二维费米面。提取的非轨道磁电阻（MR）贡献D($\theta$, H)呈现近H线性依赖，这归因于ZrSiS中的本征MR。我们的结果展示了ZrSiS及相关化合物中独特的狄拉克线节点相以及Zr-d轨道在电子结构中的主导作用。