电阻抗断层成像图像的超分辨率重建
计算机视觉与模式识别
2019-05-01 v3
摘要
电阻抗断层成像（EIT）系统正日益受到欢迎，因为与竞争系统相比它们具有若干优势。然而，EIT 生成的图像分辨率极低。此外，EIT 的非均匀采样特性阻碍了传统图像超分辨率技术的直接应用。在本工作中，我们提出了一种基于重采样的超分辨率方法，用于提升 EIT 图像质量。初步结果表明，所提出的技术能够大幅提升 EIT 图像分辨率，使其与其他技术相比更具竞争力。
引用
@article{arxiv.1701.00031,
title = {Super-Resolution Reconstruction of Electrical Impedance Tomography Images},
author = {Ricardo A. Borsoi and Julio C. C. Aya and Guilherme H. Costa and José C. M. Bermudez},
journal= {arXiv preprint arXiv:1701.00031},
year = {2019}
}