利用携带轨道角动量（OAM）的照明实现方位角特征的超分辨率成像
应用物理
2025-11-13 v1 光学
摘要
超分辨率成像指的是超越Rayleigh分辨极限的成像技术。实现超分辨率的常用方法之一是对照明物体场的相位进行结构化处理。虽然超分辨率技术已经在商业成像设备中得到应用，但仍有大量研究努力不断进一步提升分辨率。本文展示，如果照明场在方位角坐标上进行结构化处理——例如携带轨道角动量（OAM）的场——则可以实现对物体方位角特征的增强成像分辨率。我们使用两个物体进行实验验证，分别是方位角双狭缝和西门子星。我们发现，对于给定的方位角特征，存在一种最佳OAM模式指数，即照明方式可实现最佳的成像分辨率。方位角特征的超分辨率成像在某些已知具有主要方位角特征的生物学对象的情境下具有重要意义。
引用
@article{arxiv.2511.09066,
title = {Super-resolution imaging of azimuthal features with illumination carrying OAM},
author = {Nilakshi Senapati and Abhinandan Bhattacharjee and Kedar Khare and Anand K Jha},
journal= {arXiv preprint arXiv:2511.09066},
year = {2025}
}