模拟星系团质量 - 温度关系中的子结构与弥散

星系团在其整体性质之间表现出规则的标度关系。这些关系建立了晕质量与星系团可观测量之间的关键联系。依赖于这些联系的精确宇宙学研究受益于对质量 - 可观测量标度关系中弥散的更好理解。在此，我们利用包含辐射冷却和超新星反馈模拟的 121 个星系团样本，结合此前提出的三种用于测量 X 射线表面亮度子结构的统计量，研究了并合过程在引入 $M$-$T_{\rm X}$ 关系弥散中的作用。这些统计量分别是质心变化 ($w$)、轴比 ($\eta$) 以及功率比 ($P_{20}$ 和 $P_{30}$)。我们发现，在这组模拟星系团中，每个子结构测量值都与星系团偏离平均 $M$-$T_{\rm X}$ 关系的程度 $\delta \ln T_{\rm X}$ 和 $\delta \ln M$ 相关，无论是对于发射加权温度 $T_{\rm EW}$ 还是类光谱温度 $T_{\rm SL}$，其趋势均为具有更多子结构的星系团在给定晕质量下往往温度更低。在所有情况下，包含子结构信息的 $M$-$T_{\rm X}$ 关系三参数拟合比基本 $M$-$T_{\rm X}$ 关系的两参数拟合具有更小的弥散。