尘埃遮蔽星暴和 AGN 中的亚毫米复合线

我们研究了利用 H、He 和 He$^+$ 的亚毫米复合线来探测星暴 (SB) 和 AGN 的极紫外 (EUV) 光度。我们发现，H、He 和 He$^+$ 的亚毫米复合线实际上是探测 13.6 eV 至 54.6 eV 以上 EUV 连续谱极其可靠且定量的探针。在亚毫米波长下，复合线起源于低能级（n = 20 -- 50）。对于较高 n 的射电频率复合线的定量解释构成重大问题的脉泽放大效应，在此处微不足道。最后，在亚毫米波长下，尘埃消光最小。因此，亚毫米线光度直接正比于其电离区的发射度量（$EM_{ION} = n_e \times n_{ion} \times \rm{volume}$）。我们还发现，预期的线通量可被 ALMA 探测到，并能在低红移 ULIRGs 中以 $\sim0.1$\arcsec 的分辨率成像。HI 线的成像将提供低红移红外亮星系中恒星形成分布的精确空间和运动学映射。而 HI 和 HeII 复合线的相对通量将强力限制星暴和 AGN 对光度的相对贡献。HI 线还应提供一条约束亚毫米尘埃消光曲线的途径。