利用含矢量介子的手征拉格朗日量研究tau轻子反常衰变

研究了一种内禀宇称破坏的强子tau轻子衰变。$\tau \to \pi \pi \eta \nu$ 是一个振幅的主要贡献来自内禀宇称破坏的过程。为了预测强子不变质量谱并与实验数据比较，我们扩展了含矢量介子的手征拉格朗日量，使其包含内禀宇称破坏项以及 $\phi$ 和 $\eta^\prime$ 介子。内禀宇称破坏项的系数将通过拟合 $V^I \rightarrow P \gamma$、$V^I \rightarrow 3 P$ 和 $P \to V^I \gamma$ 的分支比来确定，其中 $V^I$ 表示矢量介子 $1^-$，$P$ 表示赝标量介子 $0^-$。