Ba-Cu-Ge I型笼合物的结构与稳定性
材料科学
2009-11-07 v3
摘要
我们通过感应熔炼和固态反应制备了名义成分为Ba(8)Cu(x)Ge(46-x)的样品。分析表明，这些材料形成I型笼合物，铜含量在x = 4.9至5.3之间，几乎与初始成分无关。我们利用X射线粉末衍射和单晶电子衍射证实了立方I型笼合物结构，而电子微探针测量证实了x = 5成分的稳定性。这一结果与相应的Ag和Au笼合物不同，先前未被知晓，可能归因于X射线衍射中Cu和Ge的形状因子相近。观测到的成分非常严格地遵循价电子计数规则，与Zintl型稳定性机制一致。这意味着电子态密度中存在能隙，这也与Au和Ag类似物的金属性行为形成对比。磁化测量显示Ba-Cu-Ge笼合物具有大的抗磁响应。该行为与半导体或半金属行为一致，并且类似于许多金属间半导体。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0210244,
title = {Structure and stability of Ba-Cu-Ge type-I clathrates},
author = {Yang Li and Ji Chi and Weiping Gou and Sameer Khandekar and Joseph H. Ross},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0210244},
year = {2009}
}
备注
5 pages, 3 figures. REVTeX 4.0