隐粲分子态五夸克粒子的强衰变

我们在分子态框架下，利用有效拉格朗日量方法研究了最近观测到的隐粲五夸克粒子 $P_{\psi}^N(4312)$、$P_{\psi}^N(4440)$ 和 $P_{\psi}^N(4457)$，以及 $P_{\psi s}^\Lambda(4338)$ 和 $P_{\psi s}^\Lambda(4459)$ 的强衰变。我们构建了描述这些五夸克粒子与其组分强子（即 $\Sigma_c\bar{D}^{(*)}$ 和 $\Xi_c\bar{D}^{(*)}$）之间 S 波耦合的有效拉格朗日量，并通过散射 $T$-矩阵在束缚态极点处的留数确定了耦合常数。我们的结果表明，衰变宽度对形状因子中的截断参数敏感，而分支比仅表现出弱依赖性。利用 $P_{\psi}^N(4312)$ 来标定截断范围，我们进一步探讨了 $P_{\psi}^N(4440)$ 和 $P_{\psi}^N(4457)$ 的自旋指派。我们的计算倾向于这样一种指派：质量较低的状态 $P_{\psi}^N(4440)$ 携带较高的自旋 $J = 3/2$，而质量较高的状态 $P_{\psi}^N(4457)$ 携带较低的自旋 $J = 1/2$。此外，$P_{\psi s}^\Lambda(4338)$ 和 $P_{\psi s}^\Lambda(4459)$ 的实验宽度在分子态解释下都能被很好地重现。我们期待未来有更多累积数据的实验分析，以澄清 $P_{\psi s}^\Lambda(4459)$ 的线形是否包含来自自旋 $1/2$ 和自旋 $3/2$ 两种状态的贡献。