基于形状描述子的苹果果柄-萼洼识别

本文提出了一种利用形状描述子识别苹果果柄-萼洼的新方法。现有苹果分级技术的主要缺陷是将苹果的果柄-萼洼部分视为缺陷，这导致苹果分级效果差。为克服该缺陷，我们提出了一种基于形状特征识别果柄-萼洼并与真实缺陷区分的方法。我们的方法包括以下步骤：使用 grow-cut 方法分割苹果，利用多阈值分割检测果柄-萼洼及小缺陷等候选目标；使用多重分形、傅里叶和 Radon 描述子从检测到的目标中提取形状特征；最后利用 SVM 分类器识别果柄-萼洼区域并与真实缺陷区分。所提算法在苹果图像数据集上进行了实验评估，结果表明与其他技术相比，果柄-萼洼区域的识别有显著改善。