欧洲 XFEL 探测器开发现状
仪器与探测器
2015-06-15 v1
摘要
欧洲 X 射线自由电子激光（XFEL.EU）将提供前所未有的峰值亮度和超短脉冲的空间相干 X 射线，其脉冲长度小于 100 fs，能量范围在 0.25 至 25 keV 之间。高辐射强度和超短脉冲持续时间将为新型科学技术打开窗口，并允许探索生物学、化学、材料科学以及高能量密度物质、原子、离子和分子物理学中的新现象。科学应用的多样性，特别是 XFEL.EU 独特的时间结构，要求开发适当的仪器以充分利用该光源的潜力。为了最优利用欧洲 XFEL 前所未有的能力并掌握这些巨大的技术挑战，欧洲 XFEL GmbH 已启动了一项探测器研发计划。目前正在开发的探测器系统的技术概念在性能上互补，将涵盖为 XFEL.EU 设施设想的大部分科学应用的要求。本文将介绍探测器开发项目的实际现状，包括用于光谱学等应用的超快二维成像探测器、低重复频率二维探测器以及条纹探测器，以及用于探测器校准和测试的基础设施。此外，还将概述欧洲 XFEL 在探测器研发方面的即将实施的阶段。
引用
@article{arxiv.1304.6604,
title = {Status of detector development for the European XFEL},
author = {Jolanta Sztuk-Dambietz and Steffen Hauf and Andreas Koch and Markus Kuster and Monica Turcato},
journal= {arXiv preprint arXiv:1304.6604},
year = {2015}
}
备注
Prepared for the Proccedings of SPIE Optics + Optoelectronics Conference, Prague, Czech Republic, 15th - 18th April 2013