磁共振力显微镜测量小型电子自旋系综的自旋寿命
介观与纳米尺度物理
2011-12-12 v1
摘要
磁共振力显微镜(Magnetic Resonance Force Microscopy)能够实现自旋寿命的纳米尺度成像。本文利用该技术,报告了包含约 100 个电子自旋的系综中自旋极化统计涨落(即自旋噪声)的自旋相关时间 的温度依赖性测量。我们控制了由自旋-悬臂梁耦合引起的磁机械弛豫,并表征了可能影响微观信号自旋相关时间的寄生机制。这些测量对于优化自旋灵敏度、理解局域自旋动力学以及纳米尺度成像具有重要意义。
引用
@article{arxiv.1110.6410,
title = {Spin Lifetime in Small Electron Spin Ensembles Measured by Magnetic Resonance Force Microscopy},
author = {Kin Chung Fong and Micheal R. Herman and Palash Banerjee and Denis V. Pelekhov and Chris Hammel},
journal= {arXiv preprint arXiv:1110.6410},
year = {2011}
}
备注
5 pages, 5 figures, accepted in Phys. Rev. B (Rapid Comm.)