基于自旋泵浦与微波光阻的自旋霍尔角定量测量
介观与纳米尺度物理
2012-07-10 v1 材料科学
摘要
我们提出了一种利用自旋泵浦和微波光阻测量来定量测量自旋霍尔角 (SHA) 的方法。利用该方法，我们通过面外微波激发，将坡莫合金/Pt 双层膜中的逆自旋霍尔效应 (ISHE) 与其他不需要的效应分离开来。通过微波光阻测量，确定了磁化的面内和面外进动角，从而能够精确测定注入的纯自旋流。该方法通过所获得的 ISHE 信号呈现近乎完美的洛伦兹线型以及理论预测的与频率无关的 SHA 值得到了验证。通过改变 Pt 厚度，Pt 的 SHA 和自旋扩散长度分别被定量测定为 0.012 (0.001) 和 8.3 (0.9) nm。
引用
@article{arxiv.1203.6175,
title = {Spin Hall Angle Quantification from Spin Pumping and Microwave Photoresistance},
author = {Z. Feng and J. Hu and L. Sun and B. You and D. Wu and J. Du and W. Zhang and A. Hu and Y. Yang and D. M. Tang and B. S. Zhang and H. F. Ding},
journal= {arXiv preprint arXiv:1203.6175},
year = {2012}
}
备注
20 pages, 4 figures