色旋超短激光脉冲的时空弱测量

我们present了对色旋超快光脉冲时空弱测量的全面研究。我们通过将 ultrashort laser pulse 通过樞纱或磁光介质创建色旋向量波包。采用时分辨漏泄辐射显微镜，我们检查弱值参数（$\epsilon$）的实部和虚部如何随时间影响脉冲传播。我们的技术允许我们以优异的重复性检测和分类 $75$ fs 脉冲的时序极化波动。所得实验结果表明，结果与理论预测一致。