氮化硅微谐振腔中的孤子重复频率
光学
2017-02-13 v1
摘要
测量了在反常色散氮化硅微腔中由单个孤子构成的Kerr光频梳的重复频率随泵浦频率调谐的变化。实验和理论上均评估了拉曼孤子自频移（SSFS）和热效应的贡献；发现SSFS主导了重复频率的变化。重复频率变化与泵浦频率失谐之间的关系被发现与腔的非线性系数和色散无关。讨论了使用广义Lugiato-Lefever方程对重复频率变化进行建模；发现对于持续时间低至约50 fs的腔孤子，Kerr冲击对重复频率仅有微小影响。
引用
@article{arxiv.1611.05098,
title = {Soliton repetition rate in a silicon-nitride microresonator},
author = {Chengying Bao and Yi Xuan and Cong Wang and Jose A. Jaramillo-Villegas and Daniel E. Leaird and Minghao Qi and Andrew M. Weiner},
journal= {arXiv preprint arXiv:1611.05098},
year = {2017}
}