具有纳米分辨率的单粒子显微镜
原子物理
2014-05-27 v1 量子物理
摘要
我们实验演示了依赖于确定性单粒子源的纳米透射显微镜。与使用泊松粒子源的传统显微镜方法相比,这提高了信噪比。我们使用从Paul阱中提取的激光冷却离子,并演示了透射物体的远程成像,分辨率为8.6±2.0 nm,束流位置的最小双样本偏差为1.5 nm。通过提取事件的门控,探测器暗计数可被抑制6个数量级。我们源的确定性特性使得基于信息增益的成像方法成为可能。我们通过基于贝叶斯实验设计方法的高效束流表征来演示这一点。
引用
@article{arxiv.1405.6480,
title = {Single particle microscopy with nanometer resolution},
author = {Georg Jacob and Karin Groot-Berning and Sebastian Wolf and Stefan Ulm and Luc Couturier and Ulrich G. Poschinger and Ferdinand Schmidt-Kaler and Kilian Singer},
journal= {arXiv preprint arXiv:1405.6480},
year = {2014}
}
备注
5 pages, 4 figures