利用 DataFurnace 代码和贝叶斯推断同时分析 PIXE 和 RBS 数据
材料科学
2007-07-18 v1
摘要
卢瑟福背散射光谱 (RBS) 和粒子诱导 X 射线发射 (PIXE) 技术可用于获取关于样品特性的互补信息,但传统上,用于分析每种技术数据的计算机代码之间存在隔阂,难以同时分析同一样品的数据。最近开发了一个用于任意多层样品 PIXE 模拟和分析的免费开源库 LibCPIXE,这使得将该技术集成到 DataFurnace 代码中成为可能,后者已处理许多其他离子束分析 (IBA) 技术,如卢瑟福和非卢瑟福背散射、弹性反冲探测和非共振核反应分析。因此,DataFurnace 的拟合能力现在也可应用于 PIXE 光谱,包括贝叶斯推断分析以及来自不同技术的多个光谱的同时相干拟合。文中展示了多个实例,其中同时进行的 RBS 和 PIXE 分析使我们能够获得通过对每种技术的数据进行独立分析所无法获得的一致结果。
引用
@article{arxiv.0707.2429,
title = {Simultaneous PIXE and RBS data analysis using Bayesian Inference with the DataFurnace code},
author = {C. Pascual-Izarra and M. A. Reis and N. P. Barradas},
journal= {arXiv preprint arXiv:0707.2429},
year = {2007}
}
评论
10 pages, 5 figures. Paper initially presented to IBA2005. Please cite the published version (DOI:10.1016/j.nimb.2006.03.190)