利用磁光强度效应探测短自旋波

提出一种在磁等离激元纳米结构中利用透射横向磁光（MO）强度效应对短自旋波（或磁子）进行光谱选择性探测的新方法。该方法基于分析 MO 效应谱相对于样品磁化（即自旋波）调制的变化，以及磁层中相关的空间对称性破缺。空间对称性破缺导致在光正入射时，于光学态（SPP 和波导模式）光谱范围内出现 MO 效应调制，并破坏了该效应相对于光入射角符号的反对称性。此外，揭示出 MO 效应的大小随自旋波与等离激元光栅之间相移的变化，呈以等于磁子波长为周期的谐函数关系。所有这些事实使得通过测量纳米结构中的 MO 效应来探测其中传播的特定波长自旋波成为可能。