轻质暗物质经由引力门户衰变产生的尖锐谱特征

我们研究了暗物质衰变的现象学，假设该衰变由与引力的非极小耦合引起，且暗物质质量处于 sub-GeV 范围内，即低于 QCD 禁闭标度。我们表明，单态标量暗物质候选者的衰变在光子谱中产生了尖锐的特征，表现为线状、盒状，以及一种新颖的谱特征，该特征通过接触相互作用衰变为 $e^+e^- \gamma$，其衰变分支比仅取决于单一参数，即暗物质质量。我们还根据 COMPTEL、EGRET 和 Fermi-LAT 测量的各向同性漫射伽马射线谱以及 INTEGRAL 测量的 X 射线谱中未观测到尖锐特征这一事实，推导了引力门户强度的上限。最后，我们简要评论了暗物质经由与引力的非极小耦合衰变对宇宙再电离历史的影响。