用于EUV至VIS光子与带电粒子多符合实验的装置——立体角最大化方法
仪器与探测器
2019-10-02 v1 原子物理
摘要
粒子的符合探测是实验物理中的一种有力方法，能够研究多种入射粒子与靶的相互作用。绝大多数符合实验是用带电粒子完成的，因为它们可由电场或磁场引导而获得较大的探测概率。当被符合记录的一个粒子为中性物种或光子时，其探测概率通常受限于较小的立体角。在此，我们提出两种光学组件，可显著增大EUV至VIS光子探测的立体角。这些组件的效率与通用性在电子-光子符合探测中得到展示，其中电子和光子源于气态样品经同步辐射光激发后的基本过程。
引用
@article{arxiv.1906.04653,
title = {Set-up for multi coincidence experiments of EUV to VIS photons and charged particles -- the solid angle maximization approach},
author = {A. Hans and C. Ozga and Ph. Schmidt and G. Hartmann and A. Nehls and Ph. Wenzel and C. Richter and C. Lant and X. Holzapfel and J. H. Viehmann and U. Hergenhahn and A. Ehresmann and A. Knie},
journal= {arXiv preprint arXiv:1906.04653},
year = {2019}
}
备注
7 pages, 6 figures, the following article has been submitted to Review of Scientific Instruments (AIP). After it is published, it will be found at https://aip.scitation.org/journal/rsi