暗晕形状测量的敏感性

星系与星系团的形状测量在宇宙学模拟分析中十分普遍。但这些测量的局限性却鲜有探究。本文中，我们解释了为何形状测量的质量不仅取决于数值分辨率，也取决于密度梯度。特别地，这会限制暗晕中心区域测量的质量。我们提出一种基于暗晕密度梯度估计所测形状敏感性的判据，并将其应用于无碰撞与自相互作用暗物质的宇宙学模拟。由此，我们展示了在何处可进行可靠的暗晕形状测量，以及核心密度轮廓如何限制其适用性。