SIM观测的近距微透镜候选体选取
天体物理学
2007-05-23 v1
摘要
我研究了利用空间干涉测量任务（SIM）通过远源的天体测量偏折来测量近距恒星质量的前景，最初由Paczyński和Miralda-Escudé提出。我推导了测量固定数量恒星质量至给定精度所需的总观测时间T_tot的解析表达式。我发现T_tot ~ r_max^{-2}，其中r_max为候选体搜索的最大半径，或T_tot ~ \mu_min^2，其中\mu_min为候选体搜索的最小自行。若源的可用性从V_s=17扩展到V_s=19，T_tot可减少4倍。增大r_max和V_s以及减小\mu_min均需要更为积极的候选体搜寻方法。候选体搜寻可利用Luyten自行星表结合USNO-A2.0全天体星表开始。然而，彻底的搜寻需要尚未可用的全天USNO-B自行星表。为任务做准备所需的后续观测将因候选体对通常已在1角秒以内且正在互相靠近而变得更加困难。
引用
@article{arxiv.astro-ph/9905120,
title = {Selection of Nearby Microlensing Candidates for Observation by SIM},
author = {Andrew Gould},
journal= {arXiv preprint arXiv:astro-ph/9905120},
year = {2007}
}
备注
16 pages plus 2 figures, submitted to ApJ