拓扑绝缘体中边缘态的扫描量子比特探针
介观与纳米尺度物理
2023-03-02 v1
摘要
在这项工作中，我们提出了一种基于量子比特的新型传感器，能够表征低维系统中的拓扑边缘态。研究了一个复合系统，由耦合到半无限引线通道之间拓扑非平凡的 Su-Schrieffer-Heeger 链上的量子比特组成。该量子比特探针利用退相干动力学，在弱耦合框架下，其与环境的局域态密度相关。因此，沿样品的量子比特退相干率测量提供了提取边缘态分布的手段。环境对量子比特子空间的影响通过有效的投影处理来捕捉，从而得到解析的退相干率表达式。我们证明了扫描量子比特探针能够识别并给出复合系统内拓扑边缘态的完整空间表征。
引用
@article{arxiv.2302.13771,
title = {Scanning qubit probe of edge states in a topological insulator},
author = {Nicolas Delnour and Alexei Bissonnette and Hichem Eleuch and Richard MacKenzie and Michael Hilke},
journal= {arXiv preprint arXiv:2302.13771},
year = {2023}
}
备注
9 pages, 5 figures