基于二维图像编码光学频率梳的双梳光谱无扫描共聚焦相位显微术
光学
2018-05-18 v1
摘要
共聚焦成像与相位成像是生命科学研究和工业检测中的强大工具。为将这两种具有不同深度分辨率的技术相干地联系起来，我们将光学频率梳（OFC）引入显微术。通过二维光谱编码，将样品的二维图像像素编码到OFC模式上，其中OFC充当具有大量离散频率通道的光学载波。随后，通过双梳光谱获得的模式分辨OFC振幅谱，解码出深度分辨率为62.4 μm的无扫描全视场共聚焦图像。此外，在上述共聚焦条件下，从模式分辨的OFC相位谱中解码出深度分辨率为13.7 nm的相位图像。共聚焦深度分辨率与相位包裹周期之间的匹配可以消除相位包裹模糊。所提出的混合显微术方法将成为多种应用的有力工具。
引用
@article{arxiv.1705.07236,
title = {Scan-less confocal phase microscopy based on dual comb spectroscopy of two-dimensional-image-encoding optical frequency comb},
author = {Eiji Hase and Takeo Minamikawa and Shuji Miyamoto and Ryuji Ichikawa and Yi-Da Hsieh and Kyuki Shibuya and Yoshiaki Nakajima and Akifumi Asahara and Kaoru Minoshima and Yasuhiro Mizutani and Tetsuo Iwata and Hirotsugu Yamamoto and Takeshi Yasui},
journal= {arXiv preprint arXiv:1705.07236},
year = {2018}
}
备注
32 page, 6 figures