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正常-超导体微桥电导的尺度理论

凝聚态物理 2007-05-23 v1

作者: C. W. J. Beenakker , B. Rejaei , J. A. Melsen

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摘要

计算了连接超导体的无序金属线电阻随长度的依赖性。通过将其转化为二维理想流体的等压流程，精确获得了在金属极限下传输特征值分布随长度的尺度行为。电阻在长度接近 $l/\Gamma$ 时达到最小值，其中 $l$ 为均匀距离， $\Gamma$ 为超导体界面传递系数。

关键词

尺度理论正常-超导体接触传输特征值米尺电阻均匀距离

引用

@article{arxiv.cond-mat/9403055,
  title  = {Scaling Theory of Conduction Through a Normal-Superconductor Microbridge},
  author = {C. W. J. Beenakker and B. Rejaei and J. A. Melsen},
  journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/9403055},
  year   = {2007}
}

备注

8 pages, REVTeX-3.0, 3 postscript figures appended as self-extracting archive, INLO-PUB-940315