RXTE 对低质量 X 射线二元星 4U 1624-49 的侵蚀态观测
天体物理学
2009-11-10 v2
摘要
我们分析了约 360 ks 的 RXTE 归档数据，针对 21 小时轨道周期的侵蚀态低质量 X 射线二元星 4U 1624-49。我们发现，在侵蚀期间，颜色-颜色图和硬度-强度图（CD 和 HID）上的轨迹类似于香蕉分支中中上部的 atoll 型源。这些轨迹显示出最长达约 10% 的缓慢偏移。我们随后研究了 4U 1624-49 能谱作为函数在 CD 中的位置。这是该源首次呈现能谱。未发现准周期振荡（QPO）。能谱主要由极低频噪声（VLFN）主导，这是香蕉态 atoll 源的特征，还有带限噪声（BLN），后者虽不明确检测到，但可能以不寻常方式随谱的硬度增强和升高。VLFN 拟合为幂律，当源移动到 CD 的较硬部分时变得更陡。我们得出结论，4U 1624-49 是一种 atoll 型源，在我们观测中位于上层香蕉分支上。结合其高（0.5-0.7 L_Edd）亮度、RXTE All-Sky Monitor（ASM）所见的长期稳定性，以及它是一种 X 射线侵蚀源这一事实，我们得出结论，4U 1624-49 最可能是一种类似 GX 3+1 和 GX 9+9 的 GX atoll 型源，但处于横向视角。
关键词
引用
@article{arxiv.astro-ph/0502558,
title = {RXTE observations of the dipping low-mass X-ray binary 4U 1624-49},
author = {Dave Lommen and Steve van Straaten and Michiel van der Klis and Brechtje Anthonisse},
journal= {arXiv preprint arXiv:astro-ph/0502558},
year = {2009}
}
备注
8 pages, 5 figures, 2 tables, accepted for publication in A&A. This version: a few typos corrected