FTU中 runaway 电子的控制
等离子体物理
2015-12-14 v2
摘要
本文展示了关于FTU中等离子体破裂产生的runaway电子（RE）位置与电流控制的实验结果。使用扫描干涉仪诊断分析了RE束径向位置及其不稳定性的时间演化。讨论了干涉仪时间轨迹、通过磁测量重建的径向剖面以及裂变室信号之间的对应关系。在以破裂产生的RE平台为特征的两个实验场景中，测试了新的RE控制算法，这些算法定义了实时更新的等离子体电流和位置参考值。通过对52次具有破裂产生的RE束平台的放电进行比较研究，评估了所提出控制策略的有效性，因为在电流下降时，RE束与等离子体面对部件的相互作用有所减少。
引用
@article{arxiv.1508.05483,
title = {Runaway Electron Control in FTU},
author = {D. Carnevale and B. Esposito and M. Gospodarczyk and L. Boncagni and M. Sassano and S. Galeani and D. Marocco and L. Panaccione and O. Tudisco and W. Bin and C. Cianfarani and G. Ferrò and G. Granucci and A. Gabrielli and C. Maddaluno and J. R. Martìn-Solìs and Z. Popovic and F. Martinelli and G. Pucella and G. Ramogida and M. Riva and FTU Team},
journal= {arXiv preprint arXiv:1508.05483},
year = {2015}
}