论离子味分裂：τ 与介子衰变

最小类型 I seesaw 模型为解释中微子振荡并诱导出带电离子味分裂（cLFV）。尽管已有大量研究，但半电介子 cLFV 通道仍未得到充分探索。我们利用更新后的形式因子、衰变常数和振荡数据，重新审视 τ 与介子衰变通道，在 seesaw 参数空间中进行系统比较。意外地发现，诸如 $\tau \to \ell\rho$ 之类的衰变在某些区域可主导于纯电子 $\tau$ 区段探针，包括 $\tau\to 3\ell$ 甚至 $\tau\to\ell\,\gamma$。相比之下，重质介子衰变远低于实验灵敏度。考虑到对 seesaw 参数的全局约束，我们推导出相关 cLFV 过程的分支比率，并识别出可能在下一代实验中触及的过程。