环双星吸积盘对黑洞质量损失的响应

我们研究了双超大质量黑洞并合导致质量损失后环双星吸积盘表面密度的演化。首先，在吸积盘由测试粒子组成的假设下引入解析模型，推导质量损失后盘表面密度的演化。该模型预测盘中形成尖锐的密度峰，并允许计算这些峰形成的典型时间尺度。为了测试和验证模型，我们使用光滑粒子流体动力学(SPH)代码PHANTOM进行数值模拟，考虑了流体效应。我们发现模型与模拟在峰的形状和位置上吻合良好。然而，在流体盘中，质量损失引起的本征振荡可能耗散，模拟中仅形成部分预测的峰。为了量化这种耗散的速度，我们引入了一个合适的参数，并证明它能有效解释解析的无碰撞模型与真实流体盘之间的差异。