基于非等温假设的RESIK太阳X射线耀斑元素丰度

利用 {\em CORONAS-F} 航天器上的 RESIK 晶体谱仪获取的太阳 X 射线光谱（光谱范围 $3.3-6.1$~\AA）分析了三十三个耀斑，采用一种方法推导 Si、S、Ar 和 K 的丰度，这些元素的发射线在光谱中十分显著。对于每幅光谱，该方法首先优化元素丰度，然后基于 Sylwester 等人和 Withbroe 给出的步骤推导作为温度函数的微分发射测度。这与我们之前使用等温假设的 RESIK 光谱分析形成对比。在分析的所有耀斑中平均的修订丰度（以 $A({\rm H}) = 12$ 的对数标度）为 $A({\rm Si}) = 7.53 \pm 0.08$（先前为 $7.89 \pm 0.13$）、$A({\rm S}) = 6.91 \pm 0.07$（先前为 $7.16 \pm 0.17$）、$A({\rm Ar}) = 6.47 \pm 0.08$（先前为 $6.45 \pm 0.07$）以及 $A({\rm K}) = 5.73 \pm 0.19$（先前为 $5.86 \pm 0.20$），且几乎没有证据表明在每个耀斑演化过程中丰度存在时间变化。因此，我们先前对 Ar 和 K 耀斑丰度的估计得到了本分析的确证，但 Si 和 S 的估计降低了。这表明 Si 和 Ar 的耀斑丰度非常接近光球丰度或太阳代理值，而 S 显著低于光球值，K 丰度远高于光球值。这些估计在某种程度上不同于那些对第一电离势小于 10~eV 的元素应用单一增强因子的估计。