残差-条件数图与过完备端元集的约简
计算机视觉与模式识别
2018-09-27 v1
摘要
从给定的多光谱或高光谱图像中提取参考光谱（即端元，EMs）并估计EM集的大小，在多光谱图像处理中起着重要作用。本文中，我们提出条件-残差图。通过绘制由解混与重建产生的残差以及不同EM集的条件数，所得图表可洞察光谱解混在端元数量变化下的行为。此外，我们利用条件-残差图实现一种EM约简算法，该算法从初始提取的过完备EM集出发。过完备EM集通常表现出良好的解混结果（即较低的重建残差），但由于其部分冗余性，解混在数值上变得不稳定，即解混所得丰度值可靠性较低。我们的贪心约简方案通过降低条件数（即增强集合稳定性）来改善EM集，同时将重建误差保持在尽可能低。所得集合序列为最优EM集及其大小提供线索。我们在具有已知参考EM集大小的成熟数据集上，针对若干知名EE算法展示了条件-残差图与约简方案的优势。
引用
@article{arxiv.1809.10089,
title = {Residuum-Condition Diagram and Reduction of Over-Complete Endmember-Sets},
author = {Christoph Schikora and Markus Plack and Andreas Kolb},
journal= {arXiv preprint arXiv:1809.10089},
year = {2018}
}