基于像素化伽马探测器的质子束斑成像研究
仪器与探测器
2022-03-09 v2
摘要
中国散裂中子源裂变靶产生的一级次级粒子主要为伽马和中子，其与入射质子的分布相关。基于次级粒子的分布可实现质子束斑的重建。通过基于像素化探测器测量伽马分布，发展了针孔成像和康普顿成像方法。次级伽马可由像素化伽马探测器直接探测。中子可通过探测来自(n, )反应的特征（478 keV）射线来识别。为探测次级中子，在像素化伽马探测器前加一层转换体。像素化伽马探测器对特征（478 keV）射线灵敏，从而可基于测量特征伽马的分布实现中子成像。
引用
@article{arxiv.2112.00370,
title = {Research on proton beam spot imaging based on pixelated gamma detector},
author = {Y. K. Sun and H. T. Jing and B. B. Tian and X. L. Gao and X. Y. Yang},
journal= {arXiv preprint arXiv:2112.00370},
year = {2022}
}