利用统计模型从扫描探针显微镜图像中去除背景并估计原子台阶的单位高度
仪器与探测器
2021-03-11 v2 材料科学
数据分析、统计与概率
摘要
我们提出了一种统计方法,用于去除由扫描探针显微镜获取图像中的背景并估计原子台阶的单位高度。我们采用由多个统计分布组成的混合模型来描述图像。该统计方法提供了一种全面的途径,即使在存在原子台阶的情况下也能减去背景表面,并在单一框架内评估平台高度。此外,通过引入关于图像的额外先验知识,它还能使我们提取进一步的定量信息。此扩展的一个例子是同时估计原子台阶的单位高度与平台高度。我们针对使用扫描隧道显微镜获取的 Cu(111) 表面形貌图像展示了方法的能力。背景扣除将所有平台校正至平行于水平面,且估计的单位高度精度达到皮米量级。我们方法的开源实现可在网上获取。
引用
@article{arxiv.2012.01570,
title = {Removing background and estimating a unit height of atomic steps from a scanning probe microscopy image using a statistical model},
author = {Yuhki Kohsaka},
journal= {arXiv preprint arXiv:2012.01570},
year = {2021}
}
备注
Accepted for publication in Rev. Sci. Instrum