关于 Tevatron 及更高能量下 $B_s$ 混合中 CP 破坏的评述

我们评估了三种方法，即双缪子电荷不对称性 $A_{SL}$、无标记单缪子电荷不对称性 $A_{SL}^s$ 以及无标记 $B_s \to J/\psi\phi$ 衰变中的寿命差，这些方法由 D$\emptyset$ 和 CDF 实验用于在 Tevatron 上探测 $B_s$ 混合中的 CP 破坏，而无需测量 $B_s$ 振荡或进行味道标记。后两种方法为通常的混合-衰变干涉研究（如在 $B_s \to J/\psi\phi$ 等模式中）提供了替代途径，甚至可作为交叉检验。文中讨论了在 Tevatron、LHC 和（超级）B 工厂的前景。