基于互信量估计的芯片最小工作电压可靠区间预测

预测芯片的最小工作电压 ($V_{min}$) 是提高制造测试流程效率，以及确保现场系统长期可靠性和安全性的重要技术。当前的 $V_{min}$ 预测方法通常仅提供点估计，需额外采用某些技术构建预测置信区间以覆盖由不同来源引起的不确定性。虽然一些现有技术提供区域预测，但它们依赖特定的分布假设和/或无法提供覆盖保证。为应对这些限制，我们提出了一种具备理论覆盖保证的新型无分布假设 $V_{min}$ 区间估计方法。 our 方法利用互信量回归和芯片内监控器来生成可靠的预测区间。我们在工业 5nm 汽车芯片数据集上展示了所提方法的有效性。此外，我们表明使用芯片内监控器可显著缩短 $V_{min}$ 预测的区间长度。