以可靠性为中心的高层综合
硬件体系结构
2011-11-09 v1
摘要
由于几何尺寸不断缩小、电路密度提高以及电压缩放和组件关断等节能技术的应用，在安全关键应用和商业消费产品中解决软错误的重要性日益增加。因此，有必要将可靠性视为系统设计中的一等公民。特别是，在系统设计早期做出的可靠性决策能显著提高设计质量。受此观察启发，本文提出了一种以可靠性为中心的高层综合方法来解决软错误问题。所提出的方法旨在在遵守面积和性能约束的同时最大化设计的可靠性，并利用我们对加法器和乘法器等硬件组件的可靠性表征。我们实现了该方法，对多种设计进行了实验，并将结果与先前的提案进行了比较。
引用
@article{arxiv.0710.4684,
title = {Reliability-Centric High-Level Synthesis},
author = {S. Tosun and N. Mansouri and E. Arvas and M. Kandemir and Yuan Xie},
journal= {arXiv preprint arXiv:0710.4684},
year = {2011}
}
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