量子比特测量中的松弛与 Zeno 效应
凝聚态物理
2007-05-23 v3 量子物理
摘要
我们考虑一个与环境相互作用并被由点接触表示的探测器持续监控的量子比特。我们推导描述量子比特、环境和探测器整个系统的 Bloch 型方程。利用这些方程，我们以量子比特的退相干率和松弛率为参数，评估探测器电流及其噪声谱。得到简单的表达式，表明这些量可以被准确测量。我们演示由于与环境的相互作用，即使退相干率无限大，测量也无法局域化一个量子比特。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0301409,
title = {Relaxation and Zeno effect in qubit measurements},
author = {S. A. Gurvitz and L. Fedichkin and D. Mozyrsky and G. P. Berman},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0301409},
year = {2007}
}
备注
some clarifications added, to appear in Phys. Rev. Lett