溶剂化表面测得的力曲线与溶剂化结构之间的关系：二元溶剂与分子液体的关系式
化学物理
2013-03-07 v4 生物物理
数据分析、统计与概率
摘要
最近的原子力显微镜（AFM）可以测量探针与几种溶剂中样品表面之间的力曲线。在某些情况下，力曲线被视为溶剂化结构，因为其形状通常呈振荡状，且振荡间距与溶剂直径大致相同。然而，它并非溶剂化结构，而仅仅是探针与样品表面之间的平均力。由于平均力与溶剂化结构之间的理论关系此前尚未明确，我们最近在简单液体中推导出了一个关系式。虽然我们在简单液体中推导出了该关系式，但二元溶剂和分子液体的关系式仍不清楚。因此，我们试图获得这两种溶剂中的关系式。在本信中，我们简要推导了这些关系，并解释了一种比较液体 AFM 测得的平均力与溶剂化结构（通过模拟、液体理论或 X 射线反射率获得）的方法。关系式的推导基于液体的经典统计力学。
引用
@article{arxiv.1212.6138,
title = {Relation between a force curve measured on a solvated surface and the solvation structure: Relational expressions for a binary solvent and a molecular liquid},
author = {Ken-ichi Amano and Kazuhiro Suzuki and Takeshi Fukuma and Hiroshi Onishi},
journal= {arXiv preprint arXiv:1212.6138},
year = {2013}
}