再电离历史与中微子质量

近期重子声学振荡(BAO)距离测量与 $\Lambda$CDM 框架下的宇宙微波背景(CMB)观测相结合，导致对负中微子质量的偏好。我们研究这种中微子质量异常是否可以通过一类基于天体物理动机的再电离历史来缓解。使用频率主义分析，我们发现某些再电离历史可以将 $\sum m_\nu$ 的最佳拟合值移至正值，并将 $\sum m_\nu\simeq0.06~{\rm eV}$ 纳入 95% 置信区间。为了将总光学深度的影响与再电离历史细节的影响区分开来，我们将高 $\tau$ 历史与具有相同 $\tau$ 的两步 tanh 型再电离历史进行了比较。得到的 $\Delta\chi^2(\sum m_\nu)$ 分布几乎相同。这表明该效应主要由总光学深度驱动，而再电离历史的细节仅起次要作用。