ODE 光束线高压 X 射线吸收谱研究的最新进展
材料科学
2020-02-27 v1
摘要
高压能量色散 X 射线吸收谱是一种有价值的结构分析技术，尤其当其与纳米多晶金刚石压腔结合时。本文展示了利用 SOLEIL 同步辐射 ODE 光束线的色散装置获得的最新结果。以纳米晶 CuO 为例讨论了压力和温度对 X 射线诱导光还原的影响。基于反向蒙特卡洛模拟，展示了在 alpha-MoO3 压力诱导相变过程中追踪局域环境变化的可能性。
引用
@article{arxiv.2002.10408,
title = {Recent progress in high pressure X-ray absorption spectroscopy studies at the ODE beamline},
author = {L. Nataf and F. Baudelet and A. Polian and I. Jonane and A. Anspoks and A. Kuzmin and T. Irifune},
journal= {arXiv preprint arXiv:2002.10408},
year = {2020}
}