R 宇称破坏导致的辐射性引力微子衰变

我们在 R 宇称破坏超对称框架下研究了辐射性引力微子衰变。对于涉及第三代费米子的三线性 R 宇称破坏耦合，或者对于轻引力微子，我们发现辐射圈图衰变 $\tilde{G} \to \gamma \nu$ 在广泛的参数范围内主导了树图级衰变。我们计算了引力微子的衰变宽度，并研究了其对宇宙学和对撞机物理的影响。慢衰变的引力微子是良好的暗物质候选者，其对应的参数范围同时也预言了在对撞机中可观测的 R 宇称破坏信号。一般而言，分支比强烈依赖于 R 宇称破坏算符的相对层级，并可能提供关于底层基础理论味结构的相关信息。