$D{\bar D}^*$ 分子框架下 $X(3872)$ 的辐射衰变

在非相对论有效场论框架内，我们计算了过程 $X(3872) \to \bar{D} D \gamma$ 的辐射衰变宽度，同时考虑了 $D\bar{D}$ 末态相互作用。在这项工作中，具有自旋-宇称量子数 $J^{PC}=1^{++}$ 的 $X(3872)$ 被视为一个由等比例中性成分和带电成分组成的 $D^*\bar{D} +\rm c.c.$ 束缚态。我们的数值计算预言了衰变过程 $X(3872) \to \bar{D}^0 D^0\gamma$ 的树级部分衰变宽度约为 $11.0$ keV，而 $X(3872) \to D^- D^+\gamma$ 的部分宽度小于 $1.0$ keV。发现 $D\bar{D}$ 再散射效应将 $X(3872) \to \bar{D}^0 D^0\gamma$ 的树级宽度增强了 $6\%$。相比之下，再散射效应对带电道 $X(3872)\to D^- D^+\gamma$ 产生了约 $38\%$ 的抑制。我们期望基于 $X(3872)$ 分子图像的当前预言可以通过未来的实验进行检验。