受控非门的量子过程层析
量子物理
2008-11-26 v2
摘要
我们通过量子过程层析完整表征了一个双量子比特纠缠过程——一个在符合探测下工作的线性光学受控非门。我们使用最大似然估计将实验数据转换为物理过程矩阵。该过程矩阵能够对任意输入态下该门的操作进行准确预测,并计算我们门的平均门保真度、平均纯度以及纠缠能力等门性能度量,它们分别为 0.90、0.83 和 0.73。
引用
@article{arxiv.quant-ph/0402166,
title = {Quantum process tomography of a controlled-NOT gate},
author = {J. L. O'Brien and G. J. Pryde and A. Gilchrist and D. F. V. James and N. K. Langford and T. C. Ralph and A. G. White},
journal= {arXiv preprint arXiv:quant-ph/0402166},
year = {2008}
}
备注
4 pages, 2 figures. v2 contains new data corresponding to improved gate operation. Figure quality slightly reduced for arXiv