量子电路张量与枚举器及其在量子容错中的应用

我们将最近引入的张量枚举器概念扩展到电路枚举器。我们提供一个数学框架，为分析电路和错误模型提供了一种新方法，无需借助蒙特卡洛技术。我们引入稳定子码的泊松求和公式的类似物，促进了一种精确计算码的综合征提取电路内错误路径数量的方法，无需直接枚举。我们通过明确给出距离五的表面码在各种错误模型下的错误路径数量来证明我们方法的有效性，这一任务以前被认为通过模拟是不可行的。我们还展示了我们的电路枚举器通过一种MacWilliams恒等式与通道的过程矩阵相关。