基于四波横向剪切干涉术（QLSI）的定量相位显微：原理、术语、算法与光栅阴影描述
光学
2022-03-15 v5 仪器与探测器
摘要
四波横向剪切干涉术（QLSI）是一种基于在相机前放置衍射光栅的定量相位成像技术。该光栅产生称为干涉图的网线状图像，经后处理可恢复入射光束的强度与相位分布。QLSI 发明于 90 年代，已用于众多应用，如激光束表征、透镜计量、形貌测量、自适应光学及气体喷流计量。近年来，该技术被应用于光学显微镜以表征生物成像与纳米光子学应用的微纳物体。然而，尽管其技术尤为简单，迄今在推广这一强大技术方面着力甚少。本文旨在通过简单图示描述其在光学显微镜框架下的各个层面，即工作原理、在显微镜上的实现及成像理论，以普及该技术。此外，我们提供并注释了一个用 Matlab 编写的干涉图处理算法。继而，鉴于该技术向显微镜与纳米光子学应用的新拓展及其与初始发明目的的偏离，我们提议重新审视该技术的描述，特别是讨论术语，更强调光栅阴影描述而非四波过程，并提议替代名称，即“光栅阴影相位显微”或“光栅辅助相位成像”。
引用
@article{arxiv.2102.05106,
title = {Quantitative phase microscopy using quadriwave lateral shearing interferometry (QLSI): principle, terminology, algorithm and grating shadow description},
author = {Guillaume Baffou},
journal= {arXiv preprint arXiv:2102.05106},
year = {2022}
}
备注
12 figures. 15 pages