量化X射线散射对实时缺陷检测数据生成的影响
图像与视频处理
2024-08-22 v2 计算机视觉与模式识别
机器学习
摘要
背景:X射线成像广泛用于传送带工业产品的无损缺陷检测。在线检测需要高精度、鲁棒且快速的算法。深度卷积神经网络(DCNNs)在拥有大量标注数据时满足这些要求。为克服数据采集挑战,考虑了不同的X射线图像生成方法。目的:根据与真实数据所需相似度,不同的物理效应应被模拟或可忽略。X射线散射模拟计算昂贵,且该效应会极大影响生成X射线图像的精度。我们旨在定量评估散射对缺陷检测的影响。方法:使用蒙特卡洛模拟生成X射线散射分布。DCNNs分别在含散射与不含散射的数据上训练并应用于相同测试集。计算检测概率(POD)曲线以比较其性能,以最小可检测缺陷尺寸表征。结果:我们将方法应用于圆柱体缺陷检测模型问题。在不含散射数据上训练时,DCNNs可靠检测大于1.3 mm的缺陷,使用含散射数据使性能提升小于5%。若分析在高散射-主信号比()情形下进行,性能差异可达15%(约0.4 mm)。结论:从训练数据中排除散射信号对最小可检测缺陷影响最大,且差异随缺陷增大而减小。散射-主信号比对检测性能与数据生成所需精度有显著影响。
引用
@article{arxiv.2305.12822,
title = {Quantifying the effect of X-ray scattering for data generation in real-time defect detection},
author = {Vladyslav Andriiashen and Robert van Liere and Tristan van Leeuwen and K. Joost Batenburg},
journal= {arXiv preprint arXiv:2305.12822},
year = {2024}
}
备注
This paper appears in: Journal of X-Ray Science and Technology, vol. 32, no. 4, pp. 1099-1119, 2024. Print ISSN: 0895-3996 Online ISSN: 1095-9114 Digital Object Identifier: https://doi.org/10.3233/XST-230389