通过直接动态成像量化弯曲纳米线中竞争磁态与翻转路径
介观与纳米尺度物理
2020-06-22 v1
摘要
对于基于例如畴壁运动的可行应用，自旋电子器件需要具有稳定磁化态和高度可复现的将一个态转换为另一个态的翻转路径。系统中存在多个稳定态和翻转路径是器件运行的明确障碍，但稀有和随机事件难以检测和理解。我们展示了一种基于带偏振分析的时间分辨扫描电子显微镜、应用于弯曲导线中通过场和曲率对涡旋畴壁手性的技术相关控制来量化竞争磁态和随机翻转路径的方法。尽管是一种泵浦-探测技术，我们的分析方案仍允许解耦所出现的不同动态路径，我们甚至可以通过温度和几何依赖的测量识别导致从一个磁化翻转路径变更到另一路径的稀有事件。实验成像得到微磁模拟的支持，以揭示导致路径变化的机制。综合结果使我们能够解释畴壁手性控制的起源与细节，并量化热激活的态与翻转路径变更的频率及相关的能垒。
引用
@article{arxiv.2006.11271,
title = {Quantification of competing magnetic states and switching pathways in curved nanowires by direct dynamic imaging},
author = {Daniel Schönke and Robert M. Reeve and Hermann Stoll and Mathias Kläui},
journal= {arXiv preprint arXiv:2006.11271},
year = {2020}
}