II 型 Weyl 半金属中的赝场效应：针对过度倾斜锥体的新探测手段
介观与纳米尺度物理
2020-11-25 v2 材料科学
摘要
我们研究了赝磁场对具有过度倾斜 Weyl 锥（即 II 型锥）的 Weyl 半金属的影响。我们将 II 型 Weyl 半金属中由此产生的赝朗道能级的现象学与已知的 I 型锥情况进行了比较。我们预测，由于磁场、赝磁场或二者组合所产生的手性朗道能级的性质，光学电导率可被用来探测 II 型相并推断倾斜方向。最后，我们讨论了通过对已知层状构造的推广来制备均匀和非均匀 II 型半金属的方法，以产生受控的赝磁场和过度倾斜锥体。
引用
@article{arxiv.2003.05316,
title = {Pseudo field effects in type II Weyl semimetals: new probes for over tilted cones},
author = {Daniel Sabsovich and Tobias Meng and Dmitry I. Pikulin and Raquel Queiroz and Roni Ilan},
journal= {arXiv preprint arXiv:2003.05316},
year = {2020}
}
备注
12 pages, 8 figures